硬盘销毁的方式:
硬盘数据销毁方式可以分为软销毁和硬销毁两种。
1、软销毁又称逻辑销毁,即通过数据覆盖等软件方法数据销毁或者数据擦除。硬盘数据销毁中的硬销毁则通过采用物理、化学方法直接销毁存储介质,以达到的硬盘数据销毁/数据擦除的目的;
2、硬盘数据销毁/数据擦除的性,保证涉密数据的不流失。 数据覆写法处理后的硬盘可以循环使用,适应于密级要求不是的场合,特别是需要对某一具体文件进行销毁而其他文件不能破坏时,这种方法更为可取,可以保证数据销毁的性,数据擦除的*性;
电子产品一般要做哪些测试
1、低温试验
按GB/T2423.1—89《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法低温试验》;
GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法温度变化试验方法》
进行低温试验及温度变化试验。
温度范围:-70℃~10℃。
2、高温试验
按GB/T2423.2—89《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法高温试验》;
GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法温度变化试验方法》
进行高温试验及温度变化试验。
温度范围:10℃~210℃。
3、湿热试验
按GB/T2423.3—93《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法恒定湿热试验》;
GB/T2423.4—93《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法交变湿热试验》
进行恒定湿热试验及交变湿热试验。
湿度范围:30%RH~RH。
4、霉菌试验
按GB/T2423.16—90《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法长霉试验》进行霉菌试验。
5、盐雾试验
按GB/T2423.17—93《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法盐雾试验》进行盐雾试验。
6、低气压试验
按GB/T2423.21—92《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法低气压试验》;
GB/T2423.25—92《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法低温/低气压试验》;
GB/T2423.26—92《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法高温/低气压试验》;
进行低气压试验,高、低温/低气压试验。范围:70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振动试验
按GB/T2423.10—95《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法振动试验》进行振动试验。
频率范围(机械振动台):5~60Hz(定频振动5~80Hz),大位移振幅3.5mm(满载)。频率范围(电磁振动台):5~3000Hz,大位移25mmP-P。
8、冲击试验
按GB/T2423.5—95《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法冲击试验》进行冲击试验。冲击加速度范围:(50~1500)m/s2。
9、碰撞试验
按GB/T2423.6—95《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法碰撞试验》进行碰撞试验。
10、跌落试验
按GB/T2423.7—95《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法倾跌与翻到试验》;
GB/T2423.8—95《电工电子产品环境试验*二部分:试验方法自由跌落试验》进行跌落试验。
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